掃描電子顯微鏡(SEM)
說明
材料微觀結構分析
掃描電鏡是一種精密的電子顯微鏡，具有製樣簡單、放大倍數可調範圍寬、圖像分辨率高、景深大等特點。
常用來觀察材料表面形態、斷口形貌觀察（韌窩、解理、沿晶、疲劳、皮下汽包、自由结晶形貌、焊缝等）、磨损表面形貌观察、纳米结构材料形态观察、生物样品形貌观察等。
掃描電鏡是一種精密的電子顯微鏡，具有製樣簡單、放大倍數可調範圍寬、圖像分辨率高、景深大等特點。
常用來觀察材料表面形態、斷口形貌觀察（韌窩、解理、沿晶、疲劳、皮下汽包、自由结晶形貌、焊缝等）、磨损表面形貌观察、纳米结构材料形态观察、生物样品形貌观察等。
